Die RF-Testtechnik wird durch einen Ein-Chip-Meilenstein revolutioniert

In der heutigen drahtlosen Welt ist Test & Messung die unsichtbare Kraft, die dafür sorgt, dass Ihre Geräte einwandfrei funktionieren. RF-Tests sind entscheidend für Leistung, Kompatibilität und regulatorische Konformität – sei es bei Smartphones, Radarsystemen oder Satellitenkommunikation. Werkzeuge wie Spektrumanalysatoren und automatisierte Testsysteme (ATE) bilden das Rückgrat dieses Prozesses. Sie visualisieren RF-Signale, spüren Störungen auf und prüfen die Funktion von Schaltungen – besonders in der schnellen, großvolumigen Chipproduktion.

Neue Anforderungen brauchen neue Lösungen

Mit den neuen drahtlosen Standards wachsen auch die Herausforderungen. Moderne Systeme arbeiten mit extrem großen Bandbreiten im Multi-GHz-Bereich – etwa bei 5G, mmWave oder sogar Sub-THz-Frequenzen. Mehr Kanäle, mehr Antennen, mehr Daten. Herkömmliche T&M-Systeme mit separaten Wandlern und komplexen FPGA-Architekturen stoßen an ihre Grenzen. Sie sind langsam, verbrauchen viel Energie und sind schwer zu skalieren.

Lernen Sie die Versal™ RF Series kennen

Die Versal™ RF Series von AMD setzt neue Maßstäbe. Diese Ein-Chip-Lösung kombiniert schnelle 14-Bit-RF-ADCs/DACs, leistungsstarke DSP-Blöcke und integrierte KI-Engines. Echtzeit-FFT, moderne Filterung und maschinelles Lernen sind direkt auf dem Chip verfügbar. Die Versal RF Series eignet sich perfekt für die RF-Tests der nächsten Generation. Sie ermöglicht breitbandige Analysen, Multi-Channel-Tests und intelligente Signalklassifikation. Und sie reduziert gleichzeitig Energieverbrauch und Systemkosten.

Die Zukunft des RF-Testens ist schnell, flexibel und intelligent. Und sie passt auf einen einzigen Chip.